掃描型種子大米自動數(shù)粒分析儀 種子粳米秈糯米檢測儀 自動數(shù)粒測試儀

掃描型種子大米自動數(shù)粒分析儀 種子粳米秈糯米測量儀 自動數(shù)粒測試儀  

型號:JC10-SC-E

產(chǎn)品簡介：

可用于野外或?qū)嶒?yàn)室對種子大米外觀形狀的分析。主要是分析評價(jià)各類種子、麥類、大米（秈米、粳米、秈糯米、粳糯米，特種米、有機(jī)米等），以及小米、大小麥、豆類、玉米、芝麻、瓜果、非常細(xì)小的花種子，蔬菜種子等。可一次掃描成像就分析出：粒形（直徑、長度、寬度、長寬比、面積）、整精米數(shù)量、整精米率、大米透明度、堊白率、堊白度、千粒重、碎米率、不完善率（黃粒米、未成熟粒、雜質(zhì)）。與國標(biāo)GB/T1350稻谷、GB/T17891優(yōu)質(zhì)稻谷或GB1354大米相對應(yīng)，能檢測各項(xiàng)指標(biāo)的重量比和粒數(shù)比。廣泛適用于種子、品種質(zhì)量監(jiān)管和品種選育相關(guān)的研究部門，提高工作效率。

性能優(yōu)點(diǎn)：

（1）專有的向?qū)W(xué)習(xí)，使非專業(yè)者快速上手。能準(zhǔn)確地自動分割團(tuán)狀粘連的種子圖像，自動計(jì)數(shù)精度≥99%，監(jiān)視修正<1%，即達(dá)100%正確。

（2）適應(yīng)檢測種粒直徑0.3～15mm，計(jì)數(shù)速度為20～300粒/s，每小時(shí)zui快分析計(jì)數(shù)30盤zui多30g重的種子樣本。

（3）可裁剪掉污染目標(biāo)區(qū)，能根據(jù)種子形態(tài)、大小差別，自動剔除雜質(zhì)等，并導(dǎo)出為EXCEL表以便形成統(tǒng)計(jì)分布圖。

（4）可任意組合的批操作向?qū)В瑢?shí)現(xiàn)一鍵自動完成計(jì)數(shù)。清晰、可直觀驗(yàn)證的計(jì)數(shù)自動標(biāo)記，可自由選擇標(biāo)記數(shù)字/符號，及標(biāo)記的顏色、大小。

（5）種子圖像、檢驗(yàn)結(jié)果可保存或?qū)С龅綌?shù)據(jù)庫，并形成WORD報(bào)告，滿足日常搜索、管理的需要；可存儲種子圖像及全部統(tǒng)計(jì)結(jié)果，免除了繁瑣的記錄工作，避免錯(cuò)誤。

（6）保證性能前提下，不僅提供*秀產(chǎn)品，還提供*解決方案，讓您滿意。

技術(shù)參數(shù)：

1.快速形態(tài)分析：60秒內(nèi)自動精準(zhǔn)分析測出每粒種子的各面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.1mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現(xiàn)性誤差≤±0.02mm），自動獲得每粒種子的外觀形狀參數(shù)，以及千粒重、大米整精米粒數(shù)、整精米率（30g樣本的測量誤差≤±1.0%，重現(xiàn)性誤差≤±0.25%）、大米透明度、堊白度、堊白粒率（30g樣本的測量誤差≤±1.0，重現(xiàn)性誤差≤±0.5）、碎米率、不完善粒（黃粒米、未成熟粒、雜質(zhì)）。可自動分割粘連種子、自動剔除微小雜質(zhì)和錯(cuò)誤目標(biāo)，可選擇區(qū)域統(tǒng)計(jì)。

2.可任意組合的批操作向?qū)В瑢?shí)現(xiàn)一鍵自動完成計(jì)數(shù)與各項(xiàng)分析，并實(shí)現(xiàn)鼠標(biāo)增減統(tǒng)計(jì)、區(qū)域選擇統(tǒng)計(jì)、輔助裁剪修正、種子粘連分割、輸入重量后自動換算出千粒重 等；

3．測量功能：

尺寸標(biāo)定：自帶標(biāo)定功能，實(shí)現(xiàn)半自動的尺寸標(biāo)定，XY向可分別標(biāo)定修正；

長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標(biāo)拖動精確測量；

可以單獨(dú)進(jìn)行目標(biāo)的長度測量

4．?dāng)?shù)據(jù)管理：

數(shù)據(jù)存儲：圖像（可保留原圖/結(jié)果圖）和全部分析結(jié)果以數(shù)據(jù)庫存儲；

智能查詢：按日期、編號等自動搜索查詢，查詢結(jié)果以圖像和數(shù)據(jù)庫形式顯示；

數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出：統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果能以Excel表、Word文檔、PDF文檔導(dǎo)出，并自動形成總報(bào)表輸出；

5．儀器規(guī)格與配置：

專配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800真彩雙光源掃描儀（電腦另配）

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址：北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

：李

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